高壓加速老化試驗箱
EHS-412M HAST 試驗箱是一種高度加速的方法，用於使用溫度和濕度作為環境參數對電子元件進行可靠性測試。 HAST 也稱為壓力鍋測試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測試 (USPCT)。其目的是通過將測試室中的水蒸氣壓力增加到高於測試樣品內部水蒸氣分壓的極高水平來評估測試樣品的耐濕性。這個過程會暫時加速水分滲入樣品。
HAST 是加速耐濕測試的更加速版本。與高溫/高濕度測試（在 85°C/85%RH 下）相比，HAST 會因水分驅動的腐蝕和更多的絕緣劣化而導致更多的組件接觸。在高於 100°C的溫度下保持高濕度會極大地加速由水分引起的腐蝕機制，最高可達 50 倍。 HAST 主要在塑料密封部件上完成。
應用：
- 非氣密密封電氣和電子元件
- 半導體
- 非密封半導體的耐濕性
- 非密封半導體器件的可靠性
- 半導體裝置的耐久性
規格：
- 溫度範圍 ：105°C 至 160°C
- 濕度控制範圍：75～100% RH
- 壓力範圍：0.020～0.390 MPa
- 溫度波動：+/- 0.3°C
- 濕度波動：+/- 2.5%RH
- 升溫加壓時間：0～0.39MPa 50分鐘
- 內部尺寸：直徑 294mm x 深 296mm
*此中文設備簡介為英文版本譯本，如中、英文兩個版本有任何抵觸或不相符之處，應以英文版本為準。
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