高压加速老化试验箱

10_Highly Accelerated Stress Test (HAST) chamber_2.jpg (25 KB)

EHS-412M HAST 试验箱是一种高度加速的方法，用于使用温度和湿度作为环境参数对电子组件进行可靠性测试。 HAST 也称为高压锅测试 (PCT) 或不饱和高压锅测试 (USPCT)。其目的是通过将测试室中的水蒸气压力增加到高于测试样品内部水蒸气分压的极高水平来评估测试样品的耐湿性。这个过程会暂时加速水分渗入样品。

HAST 是加速耐湿测试的更加速版本。与高温/高湿度测试（在 85°C/85%RH 下）相比，HAST 会因水分驱动的腐蚀和更多的绝缘劣化而导致更多的组件接触。在高于 100°C的温度下保持高湿度会极大地加速由水分引起的腐蚀机制，最高可达 50 倍。 HAST 主要在塑料密封部件上完成。

应用：

非气密密封电气和电子组件
半导体
非密封半导体的耐湿性
非密封半导体器件的可靠性
半导体装置的耐久性

规格：

温度范围：105°C 至 160°C
湿度控制范围：75～100% RH
压力范围：0.020～0.390 MPa
温度波动：+/- 0.3°C
湿度波动：+/- 2.5%RH
升温加压时间：0～0.39MPa 50分钟
内部尺寸：直径 294mm x 深 296mm